口腔

基礎篇

作者:首都醫科大學附屬北京口腔醫院 白玉興 來源:中國醫學論壇報 日期:2015-03-17
導讀

在進行口腔正畸治療前,正畸學科的基礎知識和臨床知識都是全科口腔醫師必須掌握的。基礎知識包括顱頜麵生長發育知識、錯(牙合)畸形的病因學、X線頭影測量、正畸生物學基礎、牙齒移動的矯治力學、支抗的設計與應用、正畸材料學等;臨床知識包括矯治的目標、錯(牙合)畸形的檢查與分類、錯(牙合)畸形的診斷與分析、矯治器及矯治技術、正畸矯治方法、正畸相關交叉學科、複發與保持等。

概述

  在進行口腔正畸治療前,正畸學科的基礎知識和臨床知識都是全科口腔醫師必須掌握的。基礎知識包括顱頜麵生長發育知識、錯(牙合)畸形的病因學、X線頭影測量、正畸生物學基礎、牙齒移動的矯治力學、支抗的設計與應用、正畸材料學等;臨床知識包括矯治的目標、錯(牙合)畸形的檢查與分類、錯(牙合)畸形的診斷與分析、矯治器及矯治技術、正畸矯治方法、正畸相關交叉學科、複發與保持等。

顱頜麵生長發育

  正畸治療時應根據顱頜麵生長發育情況對患者的錯(牙合)畸形進行早期診斷、早期預防、早期阻斷,且顱頜麵生長發育的知識與選擇矯治時機、矯治的方法及對預後進行判斷均有密切的關係。

  醫師在進行正畸前應掌握顱頜麵生長發育規律,如了解上頜骨擴弓與齶中縫發育的關係——隨年齡的增長,齶中縫的形態越來越複雜,其骨化程度增大,因此年齡越大,上頜骨擴弓效果越差;再如不同的生長發育階段采取何種治療設計,以及不同性別的生長發育階段特征――女性生長高峰期(10~14.5歲)略早於男性(12~17歲),故進行早期生長改良矯治時,女性應略早於男性。

X線頭影測量與骨麵型

  頭影測量

  通過對X線片進行頭影測量,可研究患者的生長發育,對其錯(牙合)畸形進行診斷與分析,從而確定矯治方案,觀察牙頜麵的變化,同時X線頭影測量分析也可輔助正頜外科的診斷與矯治設計。全科醫師如希望開展正畸治療,應了解頭影測量的項目正常值及其所反映的相互關係(表1)。

  矢狀骨麵型

  骨性Ⅰ類為ANB角0°~5°(替牙期);骨性Ⅱ類ANB角>5°,提示下頜相對上頜位置靠後;骨性Ⅲ類,ANB角<0°,提示下頜相對上頜位置靠前。

  垂直骨麵型

  平均生長型:MP/FH為26°~36°(替牙期);垂直生長型:MP/FH>36°,提示下頜平麵比較陡;水平生長型:MP/FH<26°,提示下頜平麵相對水平。

  骨麵型與矯治難度

  全科醫師開展正畸治療應遵循從簡單到複雜的規律,較簡單的情況有骨性Ⅰ類與平均生長型,較複雜的情況有骨性Ⅱ類及骨性Ⅲ類,垂直生長型及水平生長型。同樣,垂直向和矢狀向的關係、軟組織側貌等也是全科醫師在開展正畸治療前應了解的知識。

正畸生物力學

  正畸生物力學是正畸的基礎知識,在正畸治療前,醫師應了解相關作用力的道理,如力的矢量性與平行四邊形法則等。根據作用效果,正畸矯治力可以分為兩類――正畸力與矯形力,其作用對象與效果有所不同(表2)。

支抗的概念

  支抗是正畸專業中非常重要的概念。支抗的概念為,在矯治過程中,任何施加於牙齒使其移動的力必然產生一個大小相同、方向相反的力,能抵抗矯治力反作用的結構稱為“支抗”。

  支抗控製是正畸治療的關鍵因素,支抗控製的目的為使希望移動的牙齒發生最大的移動,使不希望移動的牙齒發生最小的移動。故全科醫師若希望開展正畸治療,應充分的了解什麼是支抗,並周密地設計支抗類型,包括頜內支抗、頜間支抗及頜外支抗。

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